設(shè)備技能繼電器zui大安穩(wěn)電流值☆zui大安穩(wěn)電流值繼電器zui大安穩(wěn)電流按表3推薦值選擇或由公司產(chǎn)晶規(guī)范規(guī)則。☆復(fù)歸電流具有沖擊主動復(fù)歸功能的繼電器動作后，電流從不大所以大安穩(wěn)電流俄然削減至不小于表3規(guī)則數(shù)值(或由公司商品規(guī)范規(guī)則)時，應(yīng)牢靠復(fù)歸。☆承曼沖擊額外路斂繼電器的沖擊額外路數(shù)由公司商品規(guī)范規(guī)則現(xiàn)繼電器在接受額~路數(shù)和沖擊的情況下，應(yīng)牢靠動作并堅持不誤回來?！罟β屎馁M繼電器的功率耗費依據(jù)其用處由公司商品規(guī)范規(guī)則?！瞽h(huán)境溫度改變對功能的影晌當(dāng)環(huán)境溫度為表2規(guī)則的標(biāo)稱規(guī)...

環(huán)境試驗可以分為哪幾類（1）實驗室試驗：一般在實驗室內(nèi)進行，又叫人工模擬試驗，是用人工的方法創(chuàng)造出某種氣候環(huán)境或機械環(huán)境，將試品在此環(huán)境中試驗。人工模擬試驗具有與大氣暴露試驗相似的模擬性，并有加速性，可大大縮短試驗時間，且其環(huán)境應(yīng)力、負(fù)載條件的施加都可嚴(yán)格控制在容差范圍內(nèi)，保證全部試驗在受控條件下進行，故重現(xiàn)性好，有可比性，其缺點是受到設(shè)備的限制，一般是試驗一些體積較小，重量較輕的產(chǎn)品，且有時對非常真實的綜合環(huán)境的模擬性較差。（2）外場試驗，可分為天然暴露試驗和現(xiàn)場試驗：①天...

砂塵試驗箱適用于檢測產(chǎn)品的外殼密封性能，主要用于外殼防護等級標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的IP5X和IP6X兩個等級的試驗。主要是模擬沙塵暴天氣對鎖具、汽摩零部件、密封件、電力儀表等產(chǎn)品所造成的破壞。通過試驗在一般設(shè)備安裝和運用方面加上一些防護網(wǎng)或者增加砂塵措施，提高自身產(chǎn)品對沙塵的抵御和防護能力。砂塵試驗箱安裝場所環(huán)境要求：1、避免潮濕、陽光直射、灰塵較多等環(huán)境。2、四周應(yīng)留出80公分的空間，不可緊貼墻壁或其他試驗設(shè)備。3、為了設(shè)備的穩(wěn)定性，環(huán)境溫濕度應(yīng)保持在：溫度5℃～30℃、濕度≤85%...

高溫老化房加熱系統(tǒng)計算空間加熱功率計算功率計算方式:設(shè)備室體散熱量+工件吸熱量+設(shè)備室內(nèi)空氣加熱量+補充新鮮空氣加熱量=總需熱量總需熱量×其它耗損系數(shù)×熱量余數(shù)KW/小時×發(fā)熱體熱效率設(shè)備室體散熱量:保溫層散熱系數(shù)×設(shè)備室體保溫層面積之和×(工作溫度----環(huán)境溫度)保溫層散熱系數(shù):0.05W(㎡/℃)相當(dāng)于:0.05J(㎡/℃)0.05×222×(140-20)=1332(J/小時)空氣加熱量計算:密度×體積×(9.8牛頓/千克)=空氣重量1.293×100×9.8≈126...

冷熱沖擊試驗箱試驗的均勻度首先，如果冷熱沖擊試驗箱箱內(nèi)的溫度不均勻?qū)⒅苯佑绊懙綔y試結(jié)果和測試的試樣，因此我們要盡可能選擇箱內(nèi)溫度均勻度較高的試驗箱來保證我們的測試結(jié)果。如若均勻度不高，那么測試結(jié)果就沒有說服力也沒有可信度。那么為什么有些試驗箱的均勻度不高呢？這其中有幾個比較重要的問題存在，只要某一問題沒有得到很好的解決，它的均勻度就不可能提高。通常情況下由于箱壁六面?zhèn)鳠嵯禂?shù)不等，有的有穿線孔等局部傳熱。使箱壁溫度不均勻，從而使箱壁幅射對流傳熱也不均勻，影響試驗箱內(nèi)的溫度均勻。...

鹽霧試驗箱樣品放置介紹鹽霧試驗箱利用一定濃度的鹽溶液或酸性鹽溶液，在一定的溫度和通過鹽霧噴淋的方法在一定的相對濕度的環(huán)境下對進行加速鹽霧腐蝕試驗。鹽霧試驗箱主要用來考核樣品材料及其涂層、電鍍層等防護層的抗鹽霧腐蝕的性能，以及相似相同的防護層之間的工藝質(zhì)量的比較。鹽霧試驗箱工作溫度為室溫至55℃之間，并能保持恒定。在規(guī)定工作室容積(一般有150L、270L、1000L等規(guī)格)的鹽霧試驗箱箱體內(nèi)，相對濕度、溫度恒定的情況下對材料或者or產(chǎn)品進行鹽霧腐蝕試驗。那么，鹽霧試驗箱做試驗...

濕熱試驗的國家標(biāo)準(zhǔn)GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB2...