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當(dāng)前位置:首頁  >  技術(shù)文章

  • 2014

    3-26

    關(guān)于溫度均勻度的理解為了更正確地模擬產(chǎn)品在自然界所遭受的實(shí)際環(huán)境狀況,在環(huán)境試驗(yàn)中必須保證被試產(chǎn)品的周邊處在同一溫度環(huán)境條件下,為此,必須對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度梯度和溫度的波動(dòng)度加以限制。在國(guó)軍標(biāo)GJB150.1-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法總則中明確規(guī)定“試驗(yàn)樣品附近測(cè)量系統(tǒng)的溫度應(yīng)在試驗(yàn)溫度的±2℃以內(nèi),其溫度工不超過1℃/m或總的zui大值為2.2℃(試驗(yàn)樣品不工作)”。

  • 2014

    3-25

    恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度不正常解決方法一、恒溫恒濕試驗(yàn)箱.在高溫試驗(yàn)中,如溫度變化達(dá)不到試驗(yàn)溫度值時(shí),可以檢查電器系統(tǒng),逐一排除故障。如溫度升得很慢,就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常,反之,就檢查風(fēng)循環(huán)的電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升,過溫保護(hù),那么,控制器出故障,須更換控制儀表。

  • 2014

    3-24

    恒溫恒濕箱加濕系統(tǒng)首先要說明恒溫恒濕箱必須要加純凈水,具體如下:1、因?yàn)橛盟訚窳W颖容^大,如果長(zhǎng)時(shí)間對(duì)濕度有要求,那么對(duì)濕度傳感器的使用壽命會(huì)有影響,(濕度傳感器:一般分為電容傳感器、霍尼非爾傳感器(這個(gè)好一點(diǎn))但是它們的PCB板有些線路沒有用隔水材料或是防氧化材料做的,如果水質(zhì)差,會(huì)使?jié)穸葌鞲衅鞫搪贰?、加濕器(一般用戶用亞都加濕器)都有個(gè)水位開關(guān),水位開關(guān)的浮子中間為磁力棒,浮子不是仿氧化材料做的。所以時(shí)間一久,或者經(jīng)常不換水會(huì)造成水位開關(guān)短路,會(huì)造成無法加濕或者一直加...

  • 2014

    3-21

    為什么要做老化試驗(yàn)產(chǎn)品老化的意義:隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高,結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微,工序越來越多,制造工藝越來越復(fù)雜,這樣在制造過程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類,*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;第二類是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷...

  • 2014

    3-20

    如何保養(yǎng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱都要使用,用的過程中,有很多注意事項(xiàng),也要經(jīng)常需要保養(yǎng)。這樣可以延長(zhǎng)試驗(yàn)箱,試驗(yàn)機(jī)的使用壽命。下面介紹注意事項(xiàng)及恒溫恒濕試驗(yàn)箱保養(yǎng)須知:1做試驗(yàn)之前一定要檢查積水筒水位不可過高,也不能太少。使水溢出積水筒或過低使?jié)袂驕y(cè)試布吸水不正常,影響濕球的準(zhǔn)確性水位大約保持六分滿即可。積水筒水位之調(diào)整,可調(diào)整積水盒的高低。差不多每做完兩三次試驗(yàn)就需要檢查一下,并加水??梢钥辞懊娴乃莨苓M(jìn)行補(bǔ)水,沒有水后機(jī)器會(huì)報(bào)警,而停止工作。2本機(jī)于機(jī)側(cè)附有測(cè)試孔,可...

  • 2014

    3-18

    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)目錄GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)cab:恒定濕熱試驗(yàn)GB/T2423.41993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法GB...

  • 2014

    3-17

    高低溫試驗(yàn)箱與低溫箱的區(qū)別低溫箱用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來講只講高低溫試驗(yàn)箱,因?yàn)榈蜏叵渌闶歉叩蜏卦囼?yàn)箱的一個(gè)變種分支。從二者試驗(yàn)用途上進(jìn)行區(qū)別:①高低溫試驗(yàn)箱的功能用途:是用于測(cè)試產(chǎn)品耐高低溫性能的。科學(xué)全面的解釋為:通過預(yù)先設(shè)置的數(shù)值,然后對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)。②低溫箱的功能用途:用于低溫可靠性試驗(yàn),不需要從事高溫試驗(yàn)。但是從二者的工作原理與配件結(jié)構(gòu)進(jìn)行區(qū)別,都是有三個(gè)方面組成...

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